محتوى الخدمة/نطاقها وعناصر الاختبار
أ. عينات قسم -TEM الرقيقة
أحد التطبيقات المهمة للمجهر ثنائي الشعاع الذي يركز على الحزمة الأيونية (DB-FIB) هو تحضير عينات فائقة الدقة للمجهر الإلكتروني النافذ (TEM). يمكن لـ GRGTEST Metrology توفير عناصر الاختبار التالية لهذا التطبيق:
محتوى الخدمة
|
عنصر الاختبار |
وحدة الاقتباس |
نوع العينة |
|
تحضير العينة المستندة إلى السيليكون (Si) XS (مقطع -عرضي). |
كل (عصام) |
شرائح معالجة متقدمة بدقة تصنيع 14 نانومتر أو أقل؛ رقائق في 28 نانومتر، 40 نانومتر، 55 نانومتر وما فوق |
|
تحضير العينة الكهروضوئية المعتمدة على السيليكون (Si) (عرض الخطة-). |
كل (عصام) |
شرائح معالجة متقدمة بدقة تصنيع 14 نانومتر أو أقل؛ رقائق في 28 نانومتر، 40 نانومتر، 55 نانومتر وما فوق |
|
تحضير العينة التي لا تعتمد على السيليكون -مقطع XS (مقطع -) عرضي |
ساعة (ح) |
عينات لا تعتمد على-السيليكون، بما في ذلك زرنيخيد الجاليوم (GaAs)، ونيتريد الجاليوم (GaN)، وكربيد السيليكون (SiC)، وما إلى ذلك. |
|
تحضير العينة الكهروضوئية غير المعتمدة على السيليكون (عرض الخطة -). |
ساعة (ح) |
عينات لا تعتمد على-السيليكون، بما في ذلك زرنيخيد الجاليوم (GaAs)، ونيتريد الجاليوم (GaN)، وكربيد السيليكون (SiC)، وما إلى ذلك. |
|
تحضير العينات الخاصة |
ساعة (ح) |
عينات مواد جديدة مختلفة، بما في ذلك مواد بطارية الليثيوم، ومواد قطب الجرافين، وما إلى ذلك. |
ب. تحليل المقطع العرضي لنقطة اتصال FA-.
|
عنصر الاختبار |
وحدة الاقتباس |
نوع العينة |
|
تحليل المقطع العرضي لنقطة اتصال FA- (بما في ذلك النقاط الفعالة التي تم التقاطها بطرق مثل OBIRCH؛ ويتوفر اختبار توقف واحد- بما في ذلك التقاط نقطة الاتصال) |
ساعة (ح) |
عينات أشباه الموصلات: الرقاقة، IC، المكونات، MEMS، الليزر، إلخ. |
ج. معالجة المقطع العرضي- التقليدية
|
عنصر الاختبار |
وحدة الاقتباس |
نوع العينة |
|
معالجة المقاطع العرضية-المستهدفة |
ساعة (ح) |
عينات أشباه الموصلات: الرقاقة، وIC، والمكونات، وثنائي الفينيل متعدد الكلور، وMEMS، والليزر، وما إلى ذلك؛ عينات أخرى من أشباه الموصلات غير - |
|
معالجة المقاطع العرضية غير-المستهدفة-. |
ساعة (ح) |
عينات أشباه الموصلات: الرقاقة، وIC، والمكونات، وثنائي الفينيل متعدد الكلور، وMEMS، والليزر، وما إلى ذلك؛ عينات أخرى من أشباه الموصلات غير - |
دورة الاختبار
دورة الاختبار القياسية هي 3 أيام تقويمية. بالنسبة للمتطلبات الخاصة، يمكننا تقديم عروض أسعار بأوقات استجابة مختلفة تبلغ 48 ساعة، و24 ساعة، و12 ساعة.
مزايانا
يمتلك أعضاء فريق GRGTEST Measurement الخبرة ذات الصلة في عمليات تصنيع الرقائق المتقدمة. نحن نلتزم بنهج يركز على العملاء-ونلتزم بتقديم خدمات اختبار دقيقة وفي الوقت المناسب وشاملة.
GRGTEST Measurement هي أكبر شركة اختبار -مملوكة للدولة-لطرف ثالث ومدرجة في الصين. يتمتع نظامنا الأساسي بآلية إدارة سليمة وقدرات-شاملة لاختبار وتحليل العملية الكاملة، مما يمكننا من تزويد العملاء بتحليل موثوق وفي الوقت المناسب للمشروعات الكاملة.
متطلبات العينة
لا مائي؛ يجب ألا تحتوي العينات على أي مكونات سائلة؛ مستقرة تحت إشعاع الحزمة الأيونية (لا يمكن الكشف عن بعض العينات العضوية)؛ الأبعاد بشكل عام لا تتجاوز 10سم*10سم*5سم (الطول*العرض*الارتفاع).
الوسم : ديسيبل -فيب (ثنائي-شعاع أيوني مركّز على الشعاع)، الصين ديسيبل -فيب (ثنائي-شعاع أيوني مركّز على الشعاع) مزود خدمة
